HZ530 프로브 세트는 EMI 진단을 위한 세 개의 활성 광대역 프로브로 구성됩니다. 입력 임피던스가 50 ω 인 HAMEG 스펙트럼 분석기에 연결하도록 설계되었습니다. 

H-필드 프로브는 스펙트럼 분석기에 자기장 세기에 비례하는 신호를 제공합니다. 이를 통해 다음과 같은 소스를 위치 파악할 수 있습니다

비교적 높은 정밀도의 간섭 및 고임피던스 프로브는 다음을 결정하는 데 사용할 수 있습니다. 

[ 주요 사양 ]

* Frequency range : 0.1MHz to 1000MHz (lower frequency limit depends on probe type)

* Output impedance : 50 Ω

* Output connector : BNC-(M)

* Input capacitance : 2pF (high imped. probe)

* Max. Save Input Level : +10dBm

* 1dB-compression point : -2dBm (frequency range dependent)

* DC-input voltage : 20V max.

* Supply Voltage : 6V DC 4 AA size batteries

* Supply-power of HM5010/11/12

* Supply Current : 8mA (H-Field Probe) 15mA (E-FieldProbe) 24mA(High imp.Probe)

* Probe Dimensions: 40x19x195mm (WxDxL)

* Housing:                      Plastic; (electrically shielded internally)

* Package contents : Carrying case 1 H-Field Probe

  1 E-Field Probe

  1 High Impedance Probe

  1 BNC cable (1.5m)

  1 Power Supply Cable (Batteries or Ni-Cads are not included)

HZ530은 RF 전자기장 조사에 이상적인 툴킷입니다. 타사 테스트 전에 제품 개발 중 EMI 사전 준수 테스트에 필수적인 도구입니다. 이 세트에는 100kHz에서 1000MHz 이상의 주파수 범위를 커버하는 프리앰프 피어가 내장된 핸드헬드 프로브 3개가 포함되어 있습니다. 프로브(자기장 프로브 1개, 전기장 프로브 1개, 고임피던스 프로브 1개)는 모두 스펙트럼 분석기 또는 RF 수신기의 50 ω 입력과 일치합니다. 전원은 배터리, Ni-Cad 또는 HM5010/5011/5012/5014 시리즈 스펙트럼 분석기에 직접 연결된 전원 코드를 통해 공급할 수 있습니다.

신호 공급은 1.5m BNC 케이블을 통해 이루어집니다. 스펙트럼 분석기나 측정 수신기와 함께 사용하면 프로브를 사용하여 EMI 소스를 찾고 검증할 수 있으며, 브레드보드와 프로토타입 수준에서 EMC 문제를 평가할 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 방사 필드를 평가하고 차폐 효과 콤 파리슨을 수행할 수 있습니다. 케이블과 구성 요소에 대한 기계적 스크리닝 성능 및 면역 테스트를 쉽게 수행할 수 있습니다.

H-필드 근거리 탐사 H-필드 프로브는 프로브 위치에 존재하는 자기 라디오 주파수(RF) 필드 강도에 비례하는 전압을 연결된 측정 시스템에 제공합니다. 이 프로브를 사용하면 회로 RF 소스 

서로 가까이 위치할 수 있습니다. H 필드는 소스로부터의 거리의 세제곱만큼 감소합니다. 거리가 두 배로 증가하면 H 필드는 8배 감소합니다(H = 1/d ³). 여기서 d는 거리입니다.

따라서 H-필드 센서를 실제로 사용할 때 간섭원에 가까워질수록 프로브의 출력 전압이 급격히 증가하는 것을 관찰할 수 있습니다. 회로 기판을 조사하는 동안 소스는 즉시 명확해집니다. 어떤 구성 요소(즉, IC)가 간섭을 일으키는지, 어떤 구성 요소가 간섭을 일으키지 않는지 쉽게 알 수 있습니다. 또한 스펙트럼 분석기를 사용하면 주파수에 따른 최대 진폭을 쉽게 식별할 수 있습니다. 따라서 EMC 목적에 적합하지 않은 구성 요소를 개발 초기에 제거할 수 있습니다. 대응책의 효과는 쉽게 판단할 수 있습니다. "누출" 영역에 대한 실드와 전도된 간섭에 대한 케이블 또는 와이어를 조사할 수 있습니다.

* 고임피던스 탐사선

고임피던스 프로브(Hi-Z)는 개별 접점 또는 인쇄 회로 트레이스에서 무선 주파수 간섭(RFI)을 측정할 수 있게 해줍니다. 직접 접촉 프로브입니다. 이 프로브는 매우 높은 임피던스(인쇄 회로 재료의 절연 저항 근처)를 가지며 테스트 지점에 2pF(1GHz에서 80 ω)만 로드합니다. 따라서 프로브와의 회로 관계에 큰 영향을 미치지 않고 회로에서 직접 측정할 수 있습니다.

예를 들어 필터 또는 기타 차단 조치의 양자 적정 효과를 측정할 수 있습니다. 개별 IC 핀은 RFI 소스로 식별할 수 있습니다. 인쇄 회로 기판에서는 개별 문제 트랙을 식별할 수 있습니다. 이 Hi-Z 프로브를 사용하면 회로의 개별 테스트 포인트를 스펙트럼 분석기의 50 ω 임피던스에 연결할 수 있습니다.

* E-필드 모노폴 프로브

E-필드 모노폴 프로브는 세 가지 프로브 중 감도가 가장 높습니다. 라디오나 TV 수신용 안테나로 사용할 수 있을 만큼 감도가 높습니다. 이 프로브를 사용하면 회로나 장비에서 나오는 전체 방사선을 측정할 수 있습니다.

예를 들어 차폐 조치의 효과를 판단하는 데 사용됩니다. 이 프로브를 사용하면 장비를 떠나는 케이블을 따라 수행되어 총 방사선에 영향을 미칠 수 있는 RFI를 측정하여 필터의 전체 효과를 확인할 수 있습니다. 또한 E-필드 프로브를 사용하여 인증 양이온 테스트에 대한 상대적 측정을 수행할 수 있습니다. 따라서 재인격 결과가 양성으로 나올 수 있도록 교정 억제 조치를 적용할 수 있습니다. 또한 인증 테스트 중에 서프라이즈가 발생하지 않도록 인증 테스트를 위한 사전 테스트를 수행할 수 있습니다. 예고 없이 변경될 수 있습니다